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我校又一项目成功通过省级成果鉴定

发布时间:2005-09-29 作者与来源:机控学院通讯员——王丽丽 科技处  浏览次数:

9月27日,由我校和清华大学共同承担的项目“基于合成波长条纹细分原理的纳米测量方法和系统”顺利通过省级鉴定。本次鉴定会由同济大学李同保院士主持,中国计量科学研究院叶孝佑研究员,华中科技大学周云飞教授,浙江大学卓永模教授、吴昭通教授等专家任鉴定委员。省科技厅成果处领导及我校副校长陈建勇教授等出席了鉴定会。

该项目由我校机控学院陈本永教授(博士后)主持,获得国家自然科学基金资助并得到清华大学的大力支持。课题组针对基于合成波长条纹细分原理的纳米测量方法、纳米测量干涉仪及其系统进行了深入研究,获得了一系列成果。经中国计量科学研究院测试,该系统分辨率优于0.3nm;经用户使用,性能稳定,测量重复性好。

在认真听取总结报告并讨论后,鉴定委员会形成了以下鉴定意见:该课题组提出的“基于合成波长条纹细分原理的纳米测量方法”具有创新性,所研制的具有自主知识产权的“基于合成波长条纹细分原理的纳米测量干涉仪”系国内外首创,达到国际先进水平,具有重要的应用前景和推广应用价值。